Артикул:
Rab96625
Характеристики
Автор
—
Цветков Эрик
Год выпуска
—
1986
Сохранность книги
?
Отличная: новая книга. Хорошая: незначительные внешние недостатки. Много читали: заметные потёртости, пометки.
—
Много читали
ISBN
—
Основы теории статистических измерений
Количество страниц
—
256
Производитель
—
Энергоатомиздат. Ленинградское отделение
Тип обложки
—
Твердый переплет
200 ₽
Нет в наличии
Нашли дешевле?
Узнать о наличии
Хочу в подарок
Аннотация
Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г.
Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
Отзывы
Оставить отзыв
Загрузка отзывов...